IEEE	IEEE (International Electrotechnical Commission)は全世界に30万人の会員を有し、39の分科会を中心に国際会議の開催、専門誌の発行、国際標準の制定などを行なっています。 代表はReliability Society, Computer Society, Nuclear and Plasma Sciences Society, Electron Device Society, Circuits and Systems Societyに加入し、 SELSE, IOLTS、WDSNなどを含め数多くのプログラム委員、 セッションチェアーを務めたほか、20回以上の国際学会への招待講演、パネル討論登壇者、200編以上の論文査読を依頼を受けています。 メモリーデバイスの中性子基因のソフトエラー研究では、その貢献を認められ2008年に IEEEフェロー賞を受賞しました。
JEDEC	JEDECは半導体デバイスに関するアメリカの業界団体ですが、製法や試験法などに関するデファクトスタンダードを定める組織として世界に対して強力な影響力を保持しています。 代表は２０００年から２００６年にかけて、メモリーデバイスの環境中性子線ソフトエラーの試験法に関して活動し、２００１年からは北米・ヨーロッパ・アジアの有志約７０名から成る３極構造のタスクグループの中でアジア太平洋地域の 議長として日本の試験法や試験施設を標準に組み入れたJESD89Aの構築を主導してきました
IEC (Int'l Electro-technical Commis-sion)	地上における環境中性子基因のメモリーのソフトエラー試験法に関しTC47委員会に参加、JESD89Aの内容をほぼ 国際標準 IEC60749-38に反映した。 航空機機器のシングルイベントに関し TC107委員会で活動に参加中。 IEC62396-4の改訂作業およびIEC62396-8の策定作業は代表を含め日本委員が主導している
JEITA	は米国のJEDECに相当する、日本の半導体の業界団体で、半導体に関する国内ガイドラインを定める。 ソフトエラーに関しては>TC47やJEDECと連携してガイドラインEDR4705（初版2005年）などを発行し、 適宜、セミナーを開催して普及に努めています。 代表はJEITAの日立製作所委員として、EDR4705策定や、セミナーでの講演を務めてきました。また、TC47発行の>IEC60749-38の原案を作成しました。
CAS(中国科学院)	CASは日本の文科省に相当し、B准教授が主催して2017年中国として始めてソフトエラーの国際会議を成都で開催した。 代表はこの会議での講演の招待を受けたが、北京で予定が確定していたTC107の国際会議と時期が重なっていたため、お断りをしたが、代わりに時期をずらして四川大学で講義を行なうよう依頼を受けた。 B准教授は代表のWiley－IEEE　Pressからの著作の中国語版（2018年11月発行予定）の翻訳者でもある。
IBM	IBMは1996年環境中性子線による半導体メモリのソフトエラー（メモリに蓄えた”１”または”０”のデータが高エネルギー放射線の入射により逆転すること）の問題が存在し、 かつ顕在化していることを世界に向けて１大キャンペーンを張り、世界中から注目を浴びました。 代表はIBMモデルを導入し、独自の中性子ソフトエラーシミュレータ開発し、NSRECなどの国際会議参加時に協力・情報交換を継続しました。
インテル	INTELは半導体論理デバイスの世界トップクラスのベンダー。 論理デバイスの主たる構成要素である フリップフロップ（ＦＦ）のソフトエラー研究で中心的役割を果たしてきました。米国の有志による国際セミナーSELSE(Silicon Errors in Logic-System Effects)を創始した。 フリップフロップのソフトエラーがメモリー以上に深刻になりつつあること、 従来のＦＦのソフトエラー対策として知られていた２重系FFが無力化しつつある警報を世界に向けて発信した。 　代表はINTELの研究チームのリーダーS氏と、SELSE創立以前から懇意にしており、 2006年にパネル討論に招待されて以来2013年まで毎年参加し、2014年にはSteering　Committeeの一員を務めました。
GE	原子炉の炉心では構造材料の腐食性生物（酸化鉄など）が冷却水に溶け出し、炉心で中性子による放射化を受ける結果コバルト６０などガンマ線を放出し続ける核種が生成されます。 そうした放射能が配管内表面に酸化とともに取り込まれる結果、原子炉建屋内の配管内表面は強い放射能を持つことになり、定期点検時などの作業時の放射線被曝の原因となります。 この放射能の挙動を明らかにして効果的な低減対策を施すことはエネルギー政策上も極めて重要です。ＧＥ／ＡＢＢ　Ａｔｏｍ／日立/東芝はこの問題解決に協力体制を組んで取り組んできた歴史があります。 弊社は代表が元日立製作所在職中、ＧＥとの共同研究に1980年～1981年の８ヶ月サンノゼのGE支社に滞在し、イタリア人R氏とコンビを組んで、ジョージア州の原子炉建屋内での実験およびまだ日本には 出回っていなかったアップル社のPCを使ってデータ解析をしました。 　GEはジェットエンジンも製造しているため、TC107委員会でV氏は複数のコンビナーを務めています。
サンマイクロシステムズ (現オラクル)	１９９８年半導体製造の世界トップのＩ社に対し、Sun社 の社長がＳＲＡＭの環境中性子によるソフトエラー問題を知ってて隠していたとして、公式に糾弾したのは, いまだに語り草の有名な事件です。 当時、日立製作所に在職して研究活動をしていた代表はＤＲＡＭの環境中性子線基因のソフトエラ 問題に対し、データベース、シミュレータ、加速器による実験技術を完成していただけでなく、ＳＲＡＭの環境中性子基因のソフトエラー問題が大問題化しつつあることをいち早く見極めていたため、米国サンノゼのＳｕｎ本社に赴いて行なった デモにより、絶大な信頼を獲得することになりました。 当時のＳｕｎ社の担当者S氏との長いつきあい・協力はこのとき始まりました。 2009年Sun社はORACLEに買収されたため、S氏もORACLEに移籍しましたが、その後、 シスコシステムズ社に転籍し、現在の、JES89B策定のリーダーとして活躍しています。
シスコシステムズ	シスコシステムズ社はネットワークスィッチ・ルータで世界最大のベンダーです。大きなマーケットを抱えているので、半導体デバイスベンダー以上に 環境中性子線基因のソフトエラー問題に大きなデータベースと深い関心と知識を持っているようです。 　代表とは日立製作所在職中打ち合わせをして、担当者（現在Ciscoフェロー）Ｗ氏との長い付き合いが始まり、その後の共同研究や、連名での重要論文発表に繋がりました。 　元Ｓｕｎ社で、ＪＥＳＤ８９Ａ制定などで力を発揮したの２０年来の長い付き合いの友人Ｓ氏もいまやシスコシステムズの一員となっています。
TSMC	TSMC(Taiwan Semiconductor Manufacturing Company)は世界最大の半導体デバイスの製造ファンドリーで、 微細化で世界を牽引している会社です。 SRAMの環境中性子基因のソフトエラー問題を紹介・議論するために訪問・議論しました。相手方には当時のＴＳＭＣフェローも加わっていました。 その時期を前後してＴＳＭＣから研究発表が見受けられるようになりました。
ボーイング	環境中性子線の半導体デバイスの誤動作への影響が宇宙や航空機業界では早くから問題になっています。試験法・対策の国際標準化の動きが航空機業界でも１９９０年代から 進められ、Boeing, Airbus, Embraerなどの 大手航空機企業が中心となってＩＥＣのTC107委員会で実務が進んでいます。 ＩＥＣの標準化文書として弊社はIEC62396-8(中性子を含めた環境放射線（陽子、ミューオン、電子など）の 影響予備評価；代表著作ご参照）の 新規提案、IEC62396-4(HIREC(株）殿の国際標準（ＳＥＢ計測法）ご提案などをサポートしてまいりました。
エアーバス	エアーバスの本社所在地で、巨大な旅客機Ａ３８０ の組み立て拠点でもあるツールーズで2012年TC107委員会が開催され、代表はこの時が国際委員会初参加。その後、連続参加を続けています。
エンブラエル	サンオゼドスカンポスを本拠地とする中型旅客機・戦闘機の航空機会社で、 ブラジルの中心産業を支えるエンブラエルの委員とは2016年のTC107に参加・討議しました。TC107委員会の現委員長は元エムブラエルの方です。
ハネウェル	代表は、ＩＥＣのＴＣ１０７委員会で航空機用デバイスの信頼性向上策でハネウェルの担当者（IEC62396-7の提案者）と意見交換・協力しています。
ST Micrto-elec-tronics	ST Micrtoelectronicsはスイスジュネーブに本社を置く半導体メーカーで、中性子基因のソフトエラーにも高い技術力を持つ。 　代表はST社の研究リーダーと共にIOLTSでパネル討論のパネラーになるなど、国際会議の場でしばしば意見を交わしてきました。
Bosch	Boschは自動車用のマイコンの利用拡大に伴い、マイコンおよび自動車用周辺部品の環境中性子線によるソフトエラーや不具合が懸念されるようになってきており、 ISO26262などの国際規格でも言及されるようになっている。 自動車用部品の大きなベンダーであるBosch社のシュツットガルト支社を訪問し、基本的な考え方、評価法などについて約１０名の技術者と意見交換した。
Halden Reactor Project (ﾉﾙｳｪｰ)	Halden Reactor Projectは原子炉の安全研究のための実験炉でノルウエーの南西沿岸、 オスロから鉄道で100kmほどの距離にあります。核燃料棒被覆管（ジルカロイ）の腐食への放射線照射の影響を評価するための実験をＧＥ，　Ａｓｅａ　Ａｔｏｍ，　 東芝、日立のチームで実施しました。１週間ほどの滞在期間でした。
TIMA Labora-tory	TIMA Laboratoyは半導体デバイスの信頼性研究を重点にしたグルノーブルにある研究所で、ソフトエラー評価・試験を業とするiRoCと緊密な協力関係にあります。 この研究所はIOLTSを主催しており、 代表は2008年にロドス島に招待されたのが最初のIOLTS参加でした。その後、2014年の第１３回まで、毎回参加し、発表・セッションチェアー・査読委員・パネル討論パネラーなどを務めたほか、SERセッションのトラックチェアーを勤めていた ICICDTでは2010年のグルノーブル開催時等で、たびたび所長と面談や、国際会議の統合開催などの相談をしてきました。 IOLTSの日本開催にも意欲をお持ちのようで、代表が今のところ形だけですが、リエイゾンを務めています。
iRoC	iRoCと、代表はiRoCの創業前から付き合いがあり、創業者が会社創立前に代表を訪問してビジネスのあり方について意見を交わしました。 SRAMの照射試験では、シスコシステムズがiRoCとの連携を深めた印象です。
日本原子力研究開発機構（JAEA)	代表と日本原子力研究開発機構とは、日本原子力研究所時代から、共同研究や、情報交換を重ねてきた実績があります。 東海原研の２０MVタンデム加速器を用いて水に中性子を照射して放射性窒素を水中に生成させ挙動評価実験をしたことがあります。 この研究成果により、日本原子力学会論文賞を頂きました。 高崎原研にはRASEDAや、個別の研究発表会・施設見学会などで度々訪問させて頂きました。
航空宇宙研究開発機構（JAXA）	航空宇宙研究開発機構は2014年まで、IEEE TNSの発表論文を題材に宇宙用半導体デバイスの検討委員会に出資して頂きました。 HIREC(株）が事務局を務め、代表は２００８年から委員長を務めてまいりました。JAXA宇宙科学研究所の方にはTC107国内委員会の委員を務めて頂いています。 NSRECやRADECS(RADiation Effects on Component and Systems)の開催地ではJAXA殿からの参加者の方々と度々同席・同行させて頂きました。
JPARC	JPARC(Japan Proton Accelerator Research Complex)は東海原研の敷地に2007年建設され、2008年より運転開始した。 大強度の陽子ビームから発生する中性子・ミューオン、K中間子・ニュートリノなどの研究に利用できます。高エネルギー中性子や、冷中性子の実験に活用できるようで、打ち合わせに伺ったことがあります。
三菱総研	三菱総研の方とは21世紀を前にして太陽活動がピークになることから、環境中性子基因の半導体デバイスの ソフトエラー問題で国プロの提案活動を数年に亘って進めました。 応用物理学会でのシンポジウムを2000年に共同主催したり、 調査目的で、ヨーロッパの研究施設（ モンペリエ大学・IMEC・ウプサラ大学）を訪問・見学したこともあります。 2020年8月末には、久々にお声をかけて頂き、宇宙ビジネスに関する宇宙線対策の課題と対策について、新型コロナ禍の中、リモートで3時間の講演を指せていただきました。
日本航空宇宙工業会（SJAC）	SJAC(The Society of Japanese Aerospace Companies)はTC107委員会の国内意見をまとめて頂いています。 数ヶ月に１回程度の頻度で、国内委員会を開催しており、代表は日立製作所在職時ソフトエラー関係の主査を務め、ツールーズ、サンジョゼドスカンポス（ブラジル）、 プラハ（チェコ共和国）、北京、ロンドンなどで開催された国際委員会に参加、IEC62396-8の新規提案、IEC62396-4の修正サポートなどを進めてまいりました。 主査在任中、JAXAのK助教授, 京都工芸繊維大学K教授、九州大学のM准教授、HIRECのA氏, 富士通（元）U氏に委員を御願いいたしました。
ルネサスエレクトロニクス	２０００年以前の日立製作所半導体事業本部時代から環境中性子基因のソフトエラー評価・対策でＤＲＡＭ（ダイナミックランダムアクセスメモリー），ＳＲＡＭ （スタテイッククランダムアクセスメモリ、ＦＦ(フリップフロップ）対象に協力・議論を進めてまいりました。 浅間山など高度を変えた場所 （高いところほど、中性子線の強度が強くなる）での世界初のフィールド試験、中性子照射によるソフトエラー実験の日本勢始めてのウプサラ大学ＴＳＬでの照射試験を進め、 ２００６年にＪＥＤＥＣで日立提案の準単色試験法が世界で初めて国際標準として認定されました（ＪＥＳＤ８９Ａ）。
NEC	JEITAの委員会ではEDR4705の策定に中心的な役割を果たして頂きました。ソフトエラーシミュレーションなどに実績があります。
SONY	JEITAの委員会ではEDR4705の策定に中心的な役割を果たして頂きました。 地下実験や、熱中性子吸収材などを用いた線種ごとの影響分離法などに実績があります。
富士通	JEITAの委員会ではEDR4705の策定に中心的な役割を果たして頂きました。 ソフトエラーシミュレータ、照射実験、マウナケアでの高山測定などに実績があります。
東芝	JEITAの委員会ではEDR4705の策定に中心的な役割を果たして頂きました。
NTT	NTTは通信装置の環境中性子基因のソフトエラー評価・対策立証のため、北海道大学の電子線ライナックによる光核反応を用いた 中性子源を利用して実験しています。京都工芸繊維大学のソフトエラー勉強会で議論させて頂きました。
Toyota	車載マイコンの利用拡大に伴い、 マイコンおよび自動車用周辺部品の環境中性子線によるソフトエラーや不具合が懸念されるようになってきており、 ISO26262などの国際規格でも言及されるようになっています。 自動車マイコンの不具合についてのトヨタ社を訪問し、基本的な考え方、評価法などについて技術者と意見交換しました。
技術情報協会（株）	技術情報協会（株）はセミナー開催活動の一環として「自社保有技術を活用した 宇宙ビジネスの参入と要求特性、技術動向」の出版を企画され、弊社が、「宇宙環境放射線による電子デバイス・装置障害の基礎と対策」の小節を担当させていただきました。 出版は2020年上期の予定です。
S&T出版（株）	S&T出版（株）のご依頼により、2019年８月「環境放射線による電子機器障害の基礎と対策」と題して３時間の講座を持たせていただき、２０名ほどのご参加者から活発なご討論を頂きました。
マサチューセッツ工科大学	ＭＩＴの研究用原子炉の担当部の教授に原子炉での放射性窒素挙動研究に強い関心を持って頂き、ＭＩＴ実験炉を用いた研究に数年間従事しました。 研究成果は１９８９年のJAIF国際会議で共同発表しました。
カリフォルニア工科大学（カルテック）	半導体デバイスの表面処理に関し、多層金属膜を高エネルギーイオン照射で強制的に混合（イオンミキシング）してありえない物質を半導体表面に形成する技術をテーマに米国国内では ノーベル賞獲得数最大のCalTechに留学しました。
スタンフォード大学	スタンフォード大学は環境中性子線基因の半導体デバイスのソフトエラー研究の米国の中心的存在に成長しました。 イリノイ大学と並んでワークショップＳＥＬＳＥを毎年交代で開催しています。大学の研究チームのリーダーM氏とはSELSEだけでなく、IOLTSなどで、度々会話をしてきました。
イリノイ大学	イリノイ大学は環境中性子線基因の半導体デバイスのソフトエラー研究の米国の中心的存在に成長しました。 スタンフォード大学と並んでワークショップＳＥＬＳＥを毎年交代で開催しています。
Uppsala Univ. (ｽｳｪｰﾃﾞﾝ).	２００１年のTSL Workshopで中性子基因の半導体デバイスのソフトエラーの講演招待を頂きました。 そこから、「準単色法」中性子ビーム照射試験法の確立までの道程がスタートし、TSLには足掛け１ヶ月ほど滞在することになりました。
Cambridge Univ	ケンブリッジ大学はニュートン、マクスウェル、ラザフォード、ホーキングなど物理学の巨匠を輩出した名門大学として名高い。 2001年TSL訪問時、急遽要請があり、この大学で中性子ソフトエラーの講義をするという名誉を頂きました。
Harwellキャンパス	Harwel Campusには、原子力研究時代と半導体研究時代にそれぞれ２回、１回訪問しました。 １回目は水の放射線分解のシミュレータに関する意見交換、２回目は原子炉水質研究に関する日本の調査団の一員として、 ３回目は中性子ソフトエラーに利用可能な中性子ビーム発生施設ISISを訪問見学しました。
IIT(インド)	小泉元総理が２００５年日印行動計画に盛りこまれた 計画の一部として IIITDM-J で半導体デバイス製造プロセスの講義を行ないました。　学生たちの熱心さ、集中力の高さに感動を覚え、 日本の大学生は勝てるの？と大いに危機感を覚えました。
四川大学（中国)	四川大学では、中国科学院の招待を受け、大学の学生約５０名を相手に、半導体デバイスの環境中性子基因のソフトエラーの講義を致しました。
ハノイ工科大学	ハノイ工科大学では、招待を受けて ICDV2014（The 2014 International Conference on Integrated Circuits, Design, and Verification）で半導体デバイスの環境中性子基因のソフトエラーの講演を致しました。
東北大学	中性子照射設備である FNL、 CYRICでは2001年から日立が利用開始。 　準単色中性子源のソフトエラー計測技術の確立およびその国際標準化に至る実績作りで大いに活用させて頂きました。
大阪大学	大阪大学の核物理研究センターRCNP は国内唯一のSpallation（白色）中性子源として国内のグループで活用されてきた。2019年には補修と強化のため、約１年間休止する予定です。 尚、弊社代表は大阪大学から、原子力関係の研究成果に対して工学博士の学位を頂いています。 H教授のご依頼により、2020年8月に大阪大学大学院での集中講義「高信頼集積システム設計論」を分担します。
日本大学	日本大学は理工学部 キャンパスが船橋と駿河台に別れ、船橋キャンパスのT教授には 最新デバイスの耐放射線性強化技術に関する検討委員会で副委員長を務めて頂きました。また、HIREC（株）と共に 半導体デバイスの放射線照射効果研究会を５回に亘って共催されました。 また、W教授のご依頼により、2018年４月量子科学フロンチア特別講義Iの中で「半導体デバイス･装置の環境中性子線による故障と対策」と題して講義を持たせていただきました。
京都工芸繊維大学	京都工芸繊維大学のK教授はソフトエラー高耐性化技術開発を進める一方、TC107国内委員会の委員をお引き受けいただいたり、海外からの招待講演者も含め、 ソフトエラー勉強会を定期的に主催したりと、幅広く活発な活動をされています。
九州大学	CRESTの領域テーマ「ディペンダブルVLSIシステムの基盤技術」では代表は外部討論者として2013年ころから議論に参加し、 2018年Springer社から発行された教科書では、Chapter 3をまとめさせて頂きました。　 九州大学 のY教授のチームは研究課題 「統合的高信頼化設計のためのモデル化と検出・訂正・回復技術」の代表としてまとめられました。また、システム評価の手法について、IEC62396に関連もあって、博多まで出向いて議論を重ねさせて頂きました。 核反応や加速器による中性子実験についても総合理工学研究院のW教授と議論させていただきました。
北海道大学	電子線ライナックから発生する電子線を用い、原子炉水質研究の一環として、 水中のクロムイオンの照射による酸化・還元反応の評価実験を共同で行ないました。 さらに、電子線から発生するガンマ線による光核反応から中性子を発生する方法で通信装置の ソフトエラー耐性を評価する手法をNTTが主体となって進めていますが、その議論に参加させて頂いています。
京都大学	CRESTの領域テーマ「ディペンダブルVLSIシステムの基盤技術」では代表は外部討論者として2013年ころから議論に参加し、 2018年Springer社から発行された教科書では、Chapter 3をまとめさせて頂きました。　京都大学 のO教授のチームは研究課題 「ロバストファブリックを用いたディペンダブルVLSIプラットフォーム」の代表としてまとめられました。 弊社代表は京都大学理学部卒業で、卒業テーマは「ミューオンの寿命測定」でした。
神戸大学	CRESTの領域テーマ「ディペンダブルVLSIシステムの基盤技術」では 代表は外部討論者として2013年ころから議論に参加し、2018年Springer社から発行された教科書では、Chapter 3をまとめさせて頂きました。　 神戸大学のY特命教授とK教授のチームは研究課題「超高信頼性VLSIシステムのためのディペンダブルメモリ技術」の代表としてまとめられました。